北京种子大米自动数粒分析仪

种子大米自动数粒分析仪  大米外观品质仪

型号：GR/SC-E

北京种子大米自动数粒分析仪可用于野外或实验室对种子大米外观形状的分析。主要是分析评价各类种子、麦类、大米（籼米、粳米、籼糯米、粳糯米，特种米、有机米等），以及小米、大小麦、豆类、玉米、芝麻、瓜果、非常细小的花种子，蔬菜种子等。可一次扫描成像就分析出：粒形（直径、长度、宽度、长宽比、面积）、整精米数量、整精米率、大米透明度、垩白率、垩白度、千粒重、碎米率、不完善率（黄粒米、未成熟粒、杂质）。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应，能检测各项指标的重量比和粒数比。广泛适用于种子、品种质量监管和品种选育相关的研究部门，提高工作效率。

北京种子大米自动数粒分析仪性能优点：

（1）专有的向导学习，使非专业者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像，自动计数精度≥99%，监视修正<1%，即达100%正确。

（2）适应检测种粒直径0.3～15mm，计数速度为20～300粒/s，每小时 快分析计数30盘 多30g重的种子样本。

（3）可裁剪掉污染目标区，能根据种子形态、大小差别，自动剔除杂质等，并导出为EXCEL表以便形成统计分布图。

（4）可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数。清晰、可直观验证的计数自动标记，可自由选择标记数字/符号，及标记的颜色、大小。

（5）种子图像、检验结果可保存或导出到数据库，并形成WORD报告，满足日常搜索、管理的需要；可存储种子图像及全部统计结果，免除了繁琐的记录工作，避免错误。

（6）保证性能前提下，不仅提供  产品，还提供 优解决方案，让您满意。

技术参数：

1.快速形态分析：60秒内自动精准分析测出每粒种子的各面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.1mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02mm），自动获得每粒种子的外观形状参数，以及千粒重、大米整精米粒数、整精米率（30g样本的测量误差≤±1.0%，重现性误差≤±0.25%）、大米透明度、垩白度、垩白粒率（30g样本的测量误差≤±1.0，重现性误差≤±0.5）、碎米率、不完善粒（黄粒米、未成熟粒、杂质）。可自动分割粘连种子、自动剔除微小杂质和错误目标，可选择区域统计。

2.可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数与各项分析，并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子粘连分割、输入重量后自动换算出千粒重 等；

3．测量功能：

尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；

长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；

可以单独进行目标的长度测量

4．数据管理：

数据存储：图像（可保留原图/结果图）和全部分析结果以数据库存储；

智能查询：按日期、编号等自动搜索查询，查询结果以图像和数据库形式显示；

数据报表导出：统计分析结果能以Excel表、Word文档、PDF文档导出，并自动形成总报表输出；

5．仪器规格与配置：

专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪（电脑另配）