北京四探针方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数。

北京双电测四探针测试仪 RTS-9型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合（亦称双位组合）测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。

北京单晶硅物理测试仪运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 a.s.t.m 标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析。

北京数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析。

北京直流低电阻测试仪2513直流低电阻测试仪量程范围为200 mΩ－2 kΩ，10 μA－100 mA的测试电流。适用于小型变压器及电感线圈铜阻, 继电器接触电阻, 开关, 接插件接触电阻, 导线电阻, 元件焊点接触电阻印制板线条及焊孔电阻、金属探伤等。